업무소개
인터텍 환경연구소는 화합물질 추적 및 오염 물질에 대한 전 세계 고객들의 샘플을 테스트합니다.당사는 정부, 규제 및 산업 표준 테스트를 위해 최첨단 분석 장비를 운영하고 있으며, 분석 능력은 탄화 수소, 석유 화학, 금속, 오염 물질 및 기타 물질에 대한 추적 및 초 미량 분석이 가능합니다.
추가적인 정보를 보시려면 인터텍 블로그에서 확인할 수 있습니다.
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인터텍 환경연구소는 화합물질 추적 및 오염 물질에 대한 전 세계 고객들의 샘플을 테스트합니다.당사는 정부, 규제 및 산업 표준 테스트를 위해 최첨단 분석 장비를 운영하고 있으며, 분석 능력은 탄화 수소, 석유 화학, 금속, 오염 물질 및 기타 물질에 대한 추적 및 초 미량 분석이 가능합니다.
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분석항목안내
Test Item | Main Equiqment | Reference methods or regulations |
---|---|---|
Heavy Metal | ||
Cadmium (Cd) / Cadmium Compounds | ICP-OES | EN11222 or US EPA 3052 |
Lead (Pb) / Lead Compounds | ICP-OES | US EPA 3052 |
Mercury (Hg) / Mercury Compounds | ICP-OES | US EPA 3052 |
Antimony (Sb) / Antimony Compounds | ICP-OES | US EPA 3052 |
Arsenic (As) / Arsenic Compounds | ICP-OES | US EPA 3052 |
Beryllium (Be) / Beryllium Compounds | ICP-OES | US EPA 3052 |
Selenium (Se) / Selenium compounds | ICP-OES | US EPA 3052 |
Barium (Ba) / Barium compounds | ICP-OES | US EPA 3052 |
Chromium (Cr) / Chromium compounds | ICP-OES | US EPA 3052 |
Tellurium (Te) / Tellurium compounds | ICP-OES | US EPA 3052 |
Thallum (Tl) / Thallum compounds | ICP-OES | US EPA 3052 |
Nickel (Ni) / Nickel Compounds | ICP-OES | US EPA 3052 |
Cobalt (Co) / Cobalt Compounds | ICP-OES | US EPA 3052 |
Copper (Cu) / Copper compounds | ICP-OES | US EPA 3052 |
Zinc (Zn) / Zinc compounds | ICP-OES | US EPA 3052 |
Manganese (Mn) / Manganese Compounds | ICP-OES | US EPA 3052 |
Silver (Ag) / Silver compounds | ICP-OES | US EPA 3052 |
Magnesium (Mg)/ Magnesium compounds | ICP-OES | US EPA 3052 |
Bismuth (Bi)/ Bismuth compounds | ICP-OES | US EPA 3052 |
Titanium (Ti)/ Titanium compounds | ICP-OES | US EPA 3052 |
Tin (Sn)/ Tin compounds | ICP-OES | |
Iron (Fe)/ Iron compounds | ICP-OES | US EPA 3052 |
Aluminium (Al)/ Aluminium compounds | ICP-OES | US EPA 3052 |
Palladium (Pd)/ Palladium compounds | ICP-OES | US EPA 3052 |
Carbon | CHNOS | CHNOS |
Hydrogen | CHNOS | CHNOS |
Sulfur | Sulfur Analyzer | Sulfur Analyzer |
Hexavalent-Chromium(Cr 6+) Compounds | UV-VIS | US EPA 3060A & 7196A |
Hexavalent-Chromium(Cr 6+ ) | visual | Spot Test |
Compounds | interpretation | (IEC 111/54/CDV section 8.5.1; ISO 3613) |
Pb +Cd+Hg+Cr 6+ | ICP & UV | |
RoHS package price (4 metals) | ||
RoHS package price | ||
(4 metals & PBBs/PBDEs) | ||
Toxic Elemental Test (Heavy Metals, Soluble) (Pb, Cd, Cr, Sb, As, Hg, Ba, Se) | ICP-OES | EN 71 Part 3, ASTM F 963 |
Nickel Release Test | ICP-OES | EN 1811, EN 12472 |
XRF Screening for Pb, Cd, Hg, Cr, Br | XRF | |
Carbon | CHNOS | CHNOS |
Hydrogen | CHNOS | CHNOS |
Nitrogen | CHNOS | CHNOS |
Nitrogen Analyzer | ||
Sulfur | Sulfur Analyzer | Sulfur Analyzer |
분석장비안내
ICP-OES 유도결합 플라스마 분석기 (Inductively Coupled Plasma)
Optima 5300 DV
Perkin Elmer
약 71원소
ppb
167~703nm
Dual Type (Axial & Radial)
유도된 전자장이 결합된 플라스마 속으로 시료용액을 주입시켜 원자화 또는 이온화시킨 후 바닥상태로 이동시 방출되는 방출선을 얻어 원소분석
동시 다원소 정량 정성 분석, 고 분해능 Echelle분광계, Dual 관측시스템 (Axial & Radial), EPA 자동내부표준물 편차보정과 weighted linear std. 적용으로 분석 정확도 보증
UV-VIS 자외선/가시광선 분광기 (UV/Vis Spectrometer)
Lambda 25
Perkin Elmer
Cr+6 , HCHO
ppb
190~1100nm
Dual-Beam
시료 속에 존재하는 물질의 종류와 농도에 따라 흡수하는 빛의 파장영역과 양이 달라지는데 이러한 변화를 관찰함으로써 분자의 전자구조 및 농도측정
파장정확도 : ±0.1nm, 파장재현성 : ±0.05nm, Solid State Detector, 물질조성, 성분함량 분석, DNA정량 가능
FIMS 수은 분석 장치 (Mercury Analyzer FIMS 1400 )
FIMS 100/400
Perkin Elmer
Hg
ppb
환원 기화시킨 수은의 원자증기를 흡수 셀에 통과시킨 뒤 분광하여 그 흡수량을 측정하는 수은 분석 전용기
고감도 분석 0.001 ㎍/ℓ, 단시간 분석 (30 sec/ sample1), 물질조성, 성분함량 분석
HPLC 액체크로마토그래피 (High performance Liquid chromatography)
Series 200
Perkin Elmer
HCHO, 유기화합물
ppb
190~700nm
DAD
시료내 각 물질이 이동상에 있는 (분배되는) 정도와 정지상 (분리관에 충진 또는 코팅된 물물질)과의리/화학적 상호작용 정도의 차이에의해 분리시킴.
190 – 700nm 사이의 1nm 분리능, Noise spec : ≤1.0 × 10-5AU, 3-D plot, Contour maps, Overlay, Subtraction and derivatives 가능
XRF 형광X선 성분분석기 (X-Ray Fluorescence Spectrometer)
SEA1200VX
SII Nano technology Inc
Solid, Powder, Liquid
수십 ~ 수백 ppm
Sulfur to Uranium
SI Semi conductor
시료에 1차 X선을 조사하여 발생하는 고유한 형광 X선 에너지를 분광결정에 의하여 측정분석
비파괴 검사, 4Filter Auto Switching, Color CCD Camera, 고상 및 액상 분석가능, 동시에 많은 원소의 분석가능
GC-MS 기체크로마토그래피 질량분석기 (Gas chromatography Mass Spectrometer)
6890GC/5975MSd
Agilent
PBB/PBDE 외 유기화합물
ppb
1.5~1050 amu
EI (Electron ionization)
기체 크로마토그래프로 분리된 시료를 이온화시켜 생성되는 양이온의 m/z (mass to charge) 값에 따라 측정한 질량 스팩트럼으로부터 물질의 분자량과 구조에 관한 정보를 얻어 정성 및 정량분석
유,무기화합물의 분리, 분자 구조의 확인, 미지화합물의 확인 및 분자량 측정, 시료의 정성 및 정량분석의 동시확인
HSS-GC-MS 해드스페이스 기체크로마토그래피 질량분석기 (Headspace Gas chromatography Mass Spectrometer)
G1888 Headspace 6890N GC 5975B inert MSD
Agilent
휘발성유기화합물(VOCs) 및 잔류용매 분석
ppb
2 ~1050 amu
EI (Electron ionization)
시료를 Vial (밀폐된 유리병)에 채취하여 밀봉한 다음 일정온도로 유지시켜 휘발성 화합물을 기상과 액상 사이의 평형상태로 만들어 기체크로마토그래피를 통과시킨 후 질량스펙트럼을 통해 정성 및 정량분석
휘발성물질의 선택적 시료주입, 난휘발성 화합물에의한 컬럼오염 방지, 고체 및 액체시료 직접분석 가능, 시료의 정성 및 정량분석의 동시확인
GC-ECD 기체크로마토그래피 전자포획검출기 (Gas chromatography Electron capture detector)
6890N GC u-ECD detector
Agilent
할로겐계 화합물, 음이온으로 되기 쉬운 분자나 전자에 대하여 친화성이 큰분자시료
ppb
주입구에서 기화된 시료가 컬럼을 통과하여 각 성분별로 분리된 후 물질이 전자포획형 검출기로 도입되면 방사성 동위원소인 63Ni의 붕괴로 생성된 베타 입자가 carrier gas와 충돌하여 낮은 에너지를 갖는 다량의 전자를 생성시키고, 전자 포획성이 있는 halogen 원소를 갖는 화합물이 생성된 전자를 포획하여 일어나는 이온 전류의 감소를 측정.RoHS 샘플 보내실곳
할로겐계 및 친전자 화합물에 대해 선택적 검출 및 높은감도
IC 이온 크로마토그래피 (Ion Chromatography)
ICS-2000
DIONEX
고정상으로 이온교환수지를 사용하여 시료내의 각 이온의 고정상에 대한 친화력의 차이를 이용하여 전도도 측정기에 의해 정성 및 정량
Reagent -Free IC (용리액 자동제조장치 : 높은재현 성, 전기분해 서프레션 (Electrilytic Suppression), CR-TC Trap 컬럼), Dual 피스톤 펌프, 전기전자 부품/재료의 Oxygen Bomb를 이용한 할로겐 분석
분석서비스절차
시험 의뢰 절차 (Intertek Korea Test Procedure)
고객분석항목 및 부위 결정
샘플링 시 상담이 필요하시면 미리 연락바랍니다.
고객신청서 작성
송부된 신청서 양식에 영문으로 작성
1. 회사명, 주소, 상품명 기재 (영문)
2. Buyer (제출처) 란 기재 (선택)
3. 시험항목 기재
4. 시험방법 기재 (선택)
* Buyer에 따라 할인율 적용
고객신청서 및 시료 발송
1. 시료량 Pb, Cd : 10g
2. 시료량 Cd, Pb, Hg, Cr 6+ : 10g
3. PBB/PBDE : 10g
* 택배 및 우편발송
인터텍견적서 및 확인서 발송
시험 비용, 종료일자, 은행구좌등 견적서 및 확인서 팩스 발송
샘플 접수 완료 후
문자서비스 발송 및 분석시작
고객입금
외환은행 029-22-00430-0
견적서 확인 후 시험완료일 전 입금
인터텍성적서 발송
시험완료 및 입금 확인
성적서 e-mail(PDF File) 및 세금계산서 발송